X-射线衍射仪是利用X射线衍射原理，即当X射线从不同的角度从晶体物质内部经过时，X射线经原子的作用其光路方向会有规律的发生改变，应用检测设备可以得到发生偏转后的X射线方向和强度，从而反映出晶体的内部结构信息(晶体的化学组成、晶格类型与结构、晶面指数及相对强度、织构及应力、物相成分等)。

X射线粉末衍射仪主要用于材料结构相关的多方面分析：多晶材料（金属、陶瓷、矿物及人工制备结晶材料）、多晶薄膜、单晶薄膜及各种无机、有机复合材料及非晶态物质。并能够精确测定物质的晶体微观结构，织构及应力，精确的进行物相检索与分析，定性、定量分析、应用谢乐方程分析晶粒大小和晶体生长层数(n值)等。

Powder X-Ray Diffractometer

仪器型号：D8 ADVANCE

仪器缩写：XRD

生产厂家：德国Bruker公司

适用领域

1）粉末样品物相分析

2）药物XRD指纹谱，晶型分析

3）金属表面物相分析

4）水泥、矿石、宝石类结晶相物相分析

5）结晶度分析

6）样品的对照分析

面向学科

化学、药物、材料、农林、化工、环境、生化、矿物、地质、冶金、半导体等领域

样品要求

1)     粉末样品要求：干燥、在空气中稳定，粒度均匀，粒径小于20μm，粉末样品量约需30mg以上

2)     块状样品要求：测试面清洁平整，也可板状、片状或丝状，带基材的镀层等原始形状，厚度≤1cm，直径≤3cm。

3)     特殊样品：极少量的微粉、非晶条带、液体样品等。微粉样品需要颗粒均匀细小，且物质性质稳定，对Si无腐蚀性。条带需要平整光滑且不能太厚。如样品中含有Fe、Co、Ni等荧光物质，请告知